KRISS(한국표준과학연구원, 원장 정광화)는 ‘이달의 KRISS인상’으로 기반표준본부 길이시간센터 김재완 박사(45)를 8월 KRISS인상 수상자로 선정했다.

KRISS에서는 매월, 그리고 매년 연구기관을 빛낸 연구원을 선정해 이달의 KRISS인상 및 올해의 KRISS인상을 시상하고 있다.

김박사는 다채널 주파수 스캐닝 레이저를 이용한 광간섭식 고속 나노 형상 측정기술(High speed interferometric nano-profiler using multichannel frequency scanning laser)을 개발해 기술이전에 성공했다.

다채널 주파수 스캐닝 레이저를 이용한 광간섭식 고속 나노 형상 측정기술은 기존의 광간섭기술에서 문제로 지적되었던 측정속도의 한계를 벗어나 기계적인 이송을 없애고 레이저 주파수를 변조하는 방식을 이용했다. 이를 통해 기존 방식보다 10배 이상 빠르고 정확한 측정이 가능하다. 다른 측정방법들은 물체가 움직여 기계적인 방법으로 측정하는데 주파수를 이용해서 측정센서가 움직이지 않고, 주파수를 변조시켜 전기적인 구동이 가능하다.

앞으로 김 박사팀은 반도체 패키징 검사 기술 및 높이 인증표준물질(CRM)개발에 연구역량을 집중할 계획이다.